熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。

產(chǎn)品型號(hào)：AT5112

更新時(shí)間：2018-05-26

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：2467

產(chǎn)品咨詢 13802268624

詳細(xì)介紹在線留言

熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀

AT5112 PTC 電阻測(cè)試儀

AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。

技術(shù)規(guī)格

路數(shù)	雙路測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC
測(cè)量參數(shù)	PTC電阻
基本準(zhǔn)確度	0.3%
測(cè)量范圍	0Ω～100Ω
信號(hào)源	電流：1mA
測(cè)試速度	3次/秒
顯示結(jié)果	標(biāo)稱值+差值
zui大讀數(shù)	1000
校正	短路清零
比較器	顯示LOW, IN, HIGH
訊響	GD、NG、關(guān)設(shè)置
測(cè)試端	每路4端屏蔽（包括2個(gè)檢測(cè)端和2個(gè)驅(qū)動(dòng)端）和外屏蔽地端
接口	可選Handler接口